FIB
UNIDAD DE MICROMAQUINADO POR HAZ DE IONES FOCALIZADO
Unidad de micro maquinado con haz de iones focalizado (FIB) para preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión (TEM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). El FIB está equipado con una fuente de Iones de Galio (Ga) y puede funcionar en un intervalo de voltajes de aceleración de 5 KV hasta 30 kV. Por medio de este dispositivo es posible realizar depósitos de películas delgadas de Pt.
El equipo permite:
- Preparar muestras para microscopía de transmisión
- Preparar muestras para microscopía de Barrido
- Estudiar superficies, recuperando electrones secundarios.
- Micro y nano fabricación